UV平行露光の散乱を抑え、30μm以下のファインパターンの再現性を高めます
従来、フォトマスクに保護テープを貼ると、50μm以下の細幅パターンの形成が困難でしたが、タックウェル#155FPは、UV領域での高透明化と巻込み気泡の大幅な低減で、露光光の散乱を抑え、ファインパターンの形成を容易にしました。
フィルムマスクだけでなく、ガラスマスクにも使用できます。
従来の液状タイプやコーティングタイプと違い、ラミネーターで貼り合わせるだけですので、取り扱いも簡単です。
物性比較
| 項目 |
単位 |
#155FP |
当社従来品 |
| 総厚み |
μm |
20 |
10 |
| 全光線透過率 |
% |
91.6 |
93.6 |
| 400nm光線透過 |
% |
85.1 |
81.8 |
| 率HAZE |
% |
1.2 |
7.3 |
| 散乱率 |
% |
1.0 |
6.8 |
| 用途 |
高密度パッケージ基板 |
汎用プリント配線板 |
※記載の数値は測定値であり、保証値ではありません
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#155FPを貼り付け、露光・現像
 形成されたライン幅(μm)/フォトマスクのライン幅(μm)
配線間の巻き込み気泡

レンズ効果のメカニズム
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気泡があると、気泡によるレンズ効果により解像度が劣化します。
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